低杂散 247/TPAK 动态测试方案：由 QT-3108SW 动态测试系统与重力式分选机组成。
支持 TO247/TPAK SiC MOS IGBT 封装器件动态参数测试。
● RG 1-512线性可调
● 负载电感10-1100uH步进10uH
● 短路保护<1us
● 支持KGD测试针卡保护电路
QT-3108SW功能齐全，支持SW、ISC 、TRR（系列参数）、
ILATCH、SCSOA、QG参数测试，选配UIS。
应用环境测试应用板与分选机直连 |
开通/关断延时TDON / TDOFF
测量范围：0~2us |
上升/下降时间TR / TF
测量范围：0~2us |
反向恢复时间TRR
测量范围：0~5us |
反向恢复电荷QRR
测量范围：0～10uC； |
总栅电荷QG
测量范围：0~100uC； |
短路电流SCSOA
测量范围：0~5000 A； |
钳住电流ILATCH
测量范围：25~1000 A； |
阈值电压VTH
测量范围：0～10.0V； |
|
解决线材分布电感引起测试结果不良
|
中国广东省佛山市南海国家高新区新光源产业基地光明大道16号 |
|
0757 83207313 (销售) |
|
0757 83208786 (销售) |
|
info@www.tingsblog.com |
